«Испытания радиоэлектронной, электронно-вычислительной аппаратуры и испытательное оборудование»

10522

Описание

Излагаются вопросы теории и практики проведения испытаний радиоэлектронной и электронно-вычислительной аппаратуры. Дается классификация испытаний. Рассматриваются общие вопросы методик испытаний и конкретные способы их проведения при воздействии механических, климатических, биологических факторов. Для студентов вузов, обучающихся по специальностям «Конструирование и производство электронно-вычислительной аппаратуры» и «Конструирование и производство радиоаппаратуры».



3 страница из 7
читать на одной стр.
Настроики
A

Фон текста:

  • Текст
  • Текст
  • Текст
  • Текст
  • Аа

    Roboto

  • Аа

    Garamond

  • Аа

    Fira Sans

  • Аа

    Times

стр.
Качество радиоэлектронной и электронно-вычислительной аппара­туры (сокращенно ЭА) складывается из целой системы показа­телей (критериев качества). К ним относятся: электрические па­раметры аппаратуры, габаритные размеры, масса, стоимость, на­дежность и др. Они, в свою очередь, определяются совокупностью схемотехнических, конструктивных, технологических и эксплуата­ционных факторов. Под качеством понимается степень совер­шенства изделий ЭА, оцениваемая соответствием требований по­требителя и возможностям производства [3].

Основными показателями эффективности работы предприятий, разрабатывающих и выпускающих ЭА, являются: темпы разра­ботки новых изделий и освоения их выпуска; качество выпускае­мой аппаратуры.

Электронное аппаратостроение развивается темпами, опере­жающими темпы развития многих других областей техники. Прог­ресс в этой области связан с применением в аппаратостроении изделий микроэлектроники и микроэлектронной технологии, что, в свою очередь, обеспечивает непрерывный рост функциональной и элементной плотности ЭА ![4]. Особенностью изделий микроэлек­троники является изготовление их конструкций групповыми мето­дами обработки. Это обеспечивает для изделий микроэлектрони­ки устойчивость тенденции к росту интеграции. Темпы роста ин­теграции иллюстрируются рис. 1.1. Можно утверждать, что и в дальнейшем эта тендеция сохранится. Это обусловлено:

уменьшением удельной стоимости (стоимости, отнесенной к единичной функции изделия);

снижением удельной интенсивности отказов (интенсивности отказов, отнесенной к единичной функции изделия);

уменьшением массы и габаритных размеров, достигаемым при повышении интеграции.

В связи с ростом интеграции изменяются условия проектирования и про­изводства ЭА. На предприятиях, разрабатывающих ЭА, внедряется новый

/page 5/

Комментарии к книге «Испытания радиоэлектронной, электронно-вычислительной аппаратуры и испытательное оборудование», Олег Павлович Глудкин

Всего 0 комментариев

Комментариев к этой книге пока нет, будьте первым!

РЕКОМЕНДУЕМ К ПРОЧТЕНИЮ

Популярные и начинающие авторы, крупнейшие и нишевые издательства